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方块电阻测试仪ST-21

品牌:国产仪器

仪器简介

ST-21型方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准,专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的新型仪器,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻

仪器详情

ST-21方块电阻测试仪以大规模集成电路为主要核心;用基准电源和运算放大器组成高精度稳流源;带回路有效正常指示电路;并配以大型LCD显示读数,使仪器具有体积小、重量轻、外形美、易操作、测量速度快、精度高的特点。

◆ 特点

1
 采用大规模集成电路作为仪器的主要部分,测量准确稳定,低功耗;
2
 以大屏幕LCD显示读数,直观清晰;
3
 采用单个电池供电,带电池欠压指示;
4
 体积≤175mm X90mm X42mm,重量≤300g;
5
 特制之手握式探笔,球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜
6
 探头带抗静电模块

◆ 技术指标:

测量范围
 按方块电阻量值大小分为二个量程档:
  1.方块电阻 1.00~199.99Ω/□;
  2.方块电阻 10.0~1999.9Ω/□;
恒流源
 测量过程误差:≤±0.8%
模数转换器
 量程:0~199.99mv;
 分辨率:10μv;
 方式:LCD大屏幕显示;极性,超量程均自动显示;小数点同步显示
测量不确定度
 在整个量程范围内,测量不确定度≤5%
四探针探头规格
 间距:1mm或3.8mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;绝缘电阻500
 9V叠层电池1节